Korpus bibliotekarstva

Vovk, D.: TESTIRANJE RFID V ICB. Knjižničarske novice, 2008, 12, poved 19 v sobesedilu:

Tako ni bilo potrebno odstranjevati iz gradiva nalepk z okvarjenim čipom, ki so jih v zameno za nove nalepke zahtevali ponudniki opreme. Okvarjenih je bilo približno 7% nalepk. Nalepke smo lepili na 3 različna mesta na notranji strani zadnje platnice.



  Nova poizvedba      Pripombe      Na vrh strani


Strežnik Centralne ekonomske knjižnice Ekonomske fakultete UL Iskalnik: NEVA